SP-BS-1908 型雜質黑點檢測儀

SUNPLUS 黑點檢測儀的用途

按相關國家標準分析樹脂片或顆粒的雜質黑點的大小、數(shù)量，以及黑點顆粒占比數(shù)。

適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。

也適用薄膜等透明體的黑點和內在疵點的檢測和分析。

SUNPLUS 黑點檢測儀的技術指標

1. 測量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標準，可在軟件界面選定。

2. 最小檢測目標： 0.1mm

3. 檢測精度： 小于0.035mm

4. 檢測面積：不小于200×200mm

5. 器皿大小：200mm×200mm 凈面積，用于顆粒黑點檢測。

6. 放大倍數(shù)：>20 倍

7. 光密度:不小于6000 流明

8. 光源要求: 24V/60W

9. 供電電源：220V,50HZ

10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

儀器功能特點

1. 測量黑點的大小和數(shù)量,以及黑點顆粒占比數(shù)。 SP-BS-1908 型 黑點檢測儀

2. 可提供黑點、損壞顆粒，以及膜片質地紋路的分布圖譜。

3. 黑點或膜片質地分布可放大和縮小。

4. 被測目標可分類計數(shù)和統(tǒng)計。

5. 按適用的標準自動生成檢測報告。

6. 報告和圖譜可打印可儲存。

7. 進樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。

8. 顆粒以透明器皿為載體，批次檢測。

9. 透明薄膜直接平鋪在檢測平臺上進行檢測，無需對薄膜作黑化或貼紙?zhí)幚怼?/p>

儀器的配置

☆ SP-BS-1908M 雜質黑點檢測儀

☆ 標準板

☆ 透明器皿 (測顆粒用)

☆電腦工作站

☆ 應用軟件